低速存储芯片老化系列产品-单腔
设备介绍：
本产品是专为低速存储芯片设计的高可靠性、量产型老化测试解决方案。
通过在设备内部模拟高温、高电压等极端工作环境，加速芯片老化过程，可提前暴露潜在缺陷，有效筛选早期失效产品，从而确保芯片在长期使用中的稳定性和耐久性。
该系列作为国内首款能够满足存储芯片老化测试需求的量产机型，为芯片可靠性验证提供了高效、可靠的国产化选择。
技术规格与核心性能：
技术规格 | 核心构型 | 单腔24 slots；双腔48 slots |
层间距设计 | 45mm | |
自动化选项 | 测试板自动插拔机构； 自动开关门机构（可选） | |
性能指标 | 温度范围(℃) | -10℃~150℃；--40℃~150℃；-70℃~150℃（可选） |
温度均匀度(℃) | 空载±1℃；满载±3℃ | |
带载能力（kw） | 6.5kw |
核心优势与品质承诺
1. 量产化设计：针对大规模生产环境优化，满足高吞吐量测试需求。
2. 高兼容性：兼容国内外主流BIB板卡，适配国内外主流厂家系统板卡，集成便捷。
3. 智能控制：搭载DHT自研分量智控技术算法，实现测试过程的精准与稳定控制。
4. 灵活配置：提供两个容量、两个温位、高速存储、低速存储，共计八个型号存储芯片老化设备。
5. 卓越品质：低功耗设计，高可靠性，低故障率，长寿命运行。
6. 服务保障：提供五年保修及专业的技术支持服务。
典型应用：
1. 适用芯片：DDR3/DDR4/DDR5, LPDDR4/LPDDR5, eMMC, UFS, NAND Flash等存储芯片。
2. 应用领域：GPU、存储芯片制造商、封测厂商、高端电子设备供应商；汽车电子、人工智能、云计算、物联网等关键行业。
为何选择我们：
本系列产品以可靠的品质、创新的技术和完善的服务，助力客户提升产品良率、降低测试成本，共同推进半导体产业链的自主可控。
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