UFS高功率存储芯片老化测试系统，面向DDR5、UFS等先进存储芯片的量产老化筛选，单腔带载能力达10kW，集成自动门与测试板自动插拔机构，已在中国、韩国主流Fab厂形成成熟配套与量产验证。

核心参数

核心特点

① 单腔带载，应对大发热量
高功率供电与强化热管理协同设计，满足DDR5、UFS老化阶段的高功耗与大发热量需求，保障长时间高负载下温度与电力的稳定输出。

② 自动门 + 自动插拔，面向量产自动化
集成自动开关门与测试板自动插拔机构，减少人工介入，提升测试吞吐量与一致性。机构经量产环境验证，适应Fab厂长时间连续运行。

③ 成熟配套方案，兼容主流老化板
提供板卡、温控、自动化机构的完整配套，兼容主流BIB生态，可快速导入现有产线，降低集成改造周期。

④ 中韩主流Fab厂量产验证
方案已服务于中国、韩国主流Fab厂，在先进存储芯片量产老化场景中积累了可复用的工程经验与运维规范，缩短客户产线导入周期。

应用场景

DDR5内存芯片量产老化｜UFS嵌入式存储可靠性筛选｜LPDDR/NAND高功率老化｜Fab与封测厂老化产线自动化升级